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产品详细页![ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置](http://img45.chem17.com/gxhpic_f34639dcad/d0ee8f8b1cc29ef83cf6dbd8579df7644332ef430901b3ab672b702fe0e36260_440_340_5.jpg)
ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置
- 产品型号:XGT-5700WR
- 更新时间:2024-03-19
- 产品介绍:ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置在保留XGT-1000WRX射线荧光光谱仪优点的基础上,Horiba又推出用于微区分析的X荧光分析仪。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技术,可将X射线聚集成10µm射线束。不但可以对样品的表面进行形貌扫描,也可对样品的内部结构透视扫描,甚至还可以实现元素扫描.
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产品介绍
ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置
在保留XGT-1000WRX射线荧光光谱仪优点的基础上,Horiba又推出用于微区分析的X荧光分析仪。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技术,可将X射线聚集成10µm射线束。不但可以对样品的表面进行形貌扫描,也可对样品的内部结构透视扫描,甚至还可以实现元素扫描.
概要
应用
PCB基板的扫描为例 |
电子组件内部的异物、故障解析为例 | |
特征
| XGT-5700WR系列 |
---|---|
X线照射径 | Ø3mm标准 |
一次X线滤膜 | Ø3mm照射径:4种自动切换 |
二次X线滤膜 | 用于金属中有害元素高灵敏度测定的标准装备 |
X线检测器 | 液体氮气冷却3L |
高纯度Si检测器 | |
样品形状 | 不超过350×400×40mm |
样品载台 | 扫描范围:100×100mm、 200×200mm(可选) |