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HORIBA堀场X射线荧光有害元素分析仪
- 产品型号:XGT-1000WR
- 更新时间:2024-03-18
- 产品介绍:HORIBA堀场X射线荧光有害元素分析仪X射线导向管聚焦技术保证了较高的检测精度;厚度自动修正;CL元素自动修正:同轴CCD技术;X射线零外溢;随机携带12块标准样;新增金属镀层测厚功能。
- 在线留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339
产品介绍
HORIBA堀场X射线荧光有害元素分析仪
HORIBA XGT-1000WR主要技术指标:
1、 分析元素:Si~UCd/Pb高精度型;Na~U选择:φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型
2、 检测精度:Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 检测仓内部尺寸:不超过460×360 mm高150 mm
4、X射线照射径:φ1.2 mm可选:φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换
5、 检测器:高纯硅检测器 XEROPHY
6、 设备重量:约 265 kg不含桌子、计算机
7、 外形尺寸:分析部分:610W×750D×500Hmm
8、 信号处理部:220W×500D×480Hmm
9、可同时测量4层金属镀层的厚度。
HORIBA在能量色散XRF方面的XGT技术实现了微小面积、高X射线能量聚焦测量,确保了微区测量、快速测量、高精度测量。