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产品详细页COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪(膜厚計)
- 产品型号:COSMOS-1X
- 更新时间:2024-03-18
- 产品介绍:COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪(膜厚計)
- 在线留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339
产品介绍
COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪(膜厚計)
●Windows下中文操作界面 各机型规格参数: 机型 手动测量台 测量主体 测量台尺寸(mm) 170*110 移动量 X(mm) 70 Y(mm) 70 Z(mm) 50 测定物zui大高度(mm) 45(可调整) 尺寸(mm) 362(W)*425(D)*486(H) 重量(kg) 44.2 样品zui大何重(kg) 3 电源 AC100V±10V(option AC115V、AC230) 搭载MS-WINDOWS系统(*的操作性与高精度测定)与IBM PC个人电脑相容
●紧凑小巧,低成本
●解析度0.001μm
●zui小测量面积0.1mm?
●可测量合金层的厚度以及成分比例
●对于多层镀层可测量每一层精确厚度
●可通过X线进行元素光谱分析
●适用对象:IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业
仪器特点:
准值器5种孔径内藏式:
zui小的准值仪孔径仅
标准:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5
小型化设计:占体积小,采购成本低,适用于小型工件。
*的显示功能:能显示测量具体位置,可将照片打印输出。
充实测量报告的作成功能:多种统计功能,轻松提供完善的测量报告。
自我诊断功能及X线管保养功能:让您时刻了解仪器使用情况,方便保养维护。